OmniScan X4相控陣探傷儀應用|啟航檢測科技（上海）有限公司提供良好的解決方案

有意義的圖像

更快更果斷地做決定

除了相控陣超聲波測試技術，所有OmniScan X4型號都標配相位

相干成像（PCI）、全聚焦法（TFM）和平面波成像（PWI），以及它們的易用性

使新用戶更容易訪問它們。使用多種工具提供有關適應癥的更多信息

增加你對評估的信心。

查看Phase的更多詳細信息

相干成像

識別和解釋具有挑戰性的缺陷，如鉤子

利用PCI的容量進行果斷有效的破解

清晰地表示難以檢測的缺陷。使

對諸如應力等細微缺陷的準確評估

腐蝕開裂（SCC），因為基于相的PCI是遠

較不容易受到相鄰缺陷的衰減

amplitude-based技術。因為衍射

SCC是由PCI加重，你可以更容易

描述每個裂縫的深度并利用該軟件

蓋茨能夠迅速找出最深層的缺陷。

高達3倍更快的TFM

利用酥脆提高你的工作效率

TFM提供的定義甚至焦點。根據

在配置中，OmniScan X4系列的TFM已啟動

比它的前身（omnican）快三倍

X3 64模型)時使用稀疏射擊模式。

雙面焊縫檢驗

雙TFM和PCI

給你的焊接證明了一個效率提高使用雙胞胎

TFM和PCI。利用PCI和的各個屬性

TFM要調查焊縫的體積

雙方同時進行。使用安裝的兩個探頭

在我們的AxSEAM™長縫掃描儀上，

您可以在一次傳遞中生成清晰的TFM和PCI結果。