CTS-1020探傷儀DAC曲線制作與應用|啟航檢測科技（上海）有限公司全國提供

4.3  DAC曲線制作與刪除

DAC曲線即距離-波幅曲線，是描述某一特定規則反射體的回波高度隨距離變化的曲線，在斜探頭探傷時，由于橫波聲場的理論推導計算非常復雜，也不成熟，常利用距離-波幅曲線來對缺陷定量和評價。

距離-波幅曲線可以通過試塊實測得到，也可通過理論計算公式得到，但理論計算只適用于>3N(近場區)，所以本儀器距離-波幅曲線需要通過試塊實測，然后儀器自動制作距離-波幅曲線。

4.3.1  DAC曲線的制作

在制做DAC曲線過程中，范圍、dB、移位均不可以再調節，但△dB、閘門等其他參數可調節。另外，DAC曲線和探頭非常相關，在制作DAC曲線前，用戶需對探頭延時、K值進行標定。否則所制作DAC曲線可能錯誤。

DAC曲線可根據不同標準要求制作，相關的標準包括：NB47013、GB11345、ASME、ASME Ⅲ、JIS、EN1712。此外，還可以自定義曲線，最多可制作7條曲線。

操作步驟：

a) 按-【功能】-【DAC】進入圖4-3；

b) 按【標準】選擇相應標準制作DAC曲線；按【參數】設置DAC曲線參數；

圖4-3  DAC曲線功能界面

c) 按【制作】進入DAC曲線制作，如圖4-4。移動閘門，套住參考回波，按【記錄】(在制作過程中,用戶需尋找第一記錄點回波時,只需按【H2】鍵閘門自動套住回波，再按自動增益,可免去移動閘門及調整dB的步驟。)

d) 按【制作完成】，即可完成曲線制作。

圖4-4  DAC曲線的制作界面

4.3.2  DAC曲線的修正

    操作步驟：

a) 按-【功能】-【DAC】-【制作】，選擇【修正】進入菜單，如圖4-5；

b) 選擇【第幾點】后，再選擇【高度】，旋轉旋鈕即可；

c) 選擇【刪除】則可直接刪除曲線點。

圖4-5　DAC曲線修正界面

4.3.3  DAC曲線的報警及存儲

用閘門1選通DAC曲線內回波，此時如果回波超過某一曲線，相應幅度結果將以當量顯示。例如“SL＋1.1"表示該缺陷波峰點位于曲線區并超過定量線1.1dB。當閘門1回波幅度超過定量線時,曲線會通過變顏色進行報警提醒。

DAC曲線的存儲功能包括探傷參數及DAC曲線參數的保存。

存儲操作如下：在DAC曲線功能狀態下(顯示DAC符號)，按　　　鍵或按-【數據】-【存儲】打開保存界面。

4.4  AVG曲線制作與刪除

    在超聲波探傷中，自然缺陷的形狀、性質和方向各不相同，回波相同的缺陷實際上往往相差很大，為此特引進“當量尺寸"來衡量缺陷的大小。在相同的探測條件下，當自然缺陷與某形狀規則的人工缺陷回波等高時，則該人工缺陷的尺寸就為此自然缺陷的當量尺寸。

    描述規則反射體的距離、波幅、當量大小之間的關系曲線稱為距離-波幅-當量曲線，德文稱AVG曲線，英文為DGS曲線。

    本儀器提供“實用AVG曲線"功能。只適用于特定直探頭，可以用來調整探傷靈敏度和缺陷定量，可以檢測鍛件、細晶體鑄件、型材等。

使用時請注意：

a) 在制作AVG曲線時，要注意所用探頭的頻率和晶片尺寸是否適宜，在參數菜單中的數值是否正確；在制作AVG時，理論上只計算了三倍近場區之后的數值，三倍近場區之前僅顯示為直線，如果用戶所用試塊深度較小，則需用多次波，使所需回波處于三倍近場區之后；

b) 不考慮試塊的介質衰減系數與被檢工件的介質衰減 兩者之間的差別；

c) 不考慮耦合條件的不同（試塊、工件不同的表面狀態）；

注:

參考類型可選擇：大平底或平底孔，平底孔參考尺寸可設置為0.5mm～10mm。

AVG曲線尺寸：0.5mm～10mm，步進0.1mm。

操作步驟：( 2.5P20直探頭，200φ2的平底孔為例)

a) 按-【功能】-【AVG】；

b) 【參數】-【參考類型】，選擇“平底孔"；

c) 選擇【參考尺寸】φ2；

d) 選擇【曲線尺寸】φ2；

e) 耦合探頭（2.5P20）到200φ2的平底孔試塊上，找到該平底孔的最高反射波，將閘門套住該回波；

f) 選擇【制作】-【記錄】即可完成曲線制作；

g) 選擇【關閉AVG】，將刪除曲線并退出功能；曲線制作完成后，如需刪除重新制作，選擇【重新制作】。

曲線制作完成后，在測量結果顯示區最后一行將顯示測量結果，其中第一個數據表示回波幅度相對與AVG曲線的dB差，如+2dB（表示回波幅度高出AVG曲線2dB）。第二數據表示缺陷當量，如2.0mm（表示缺陷大小相當于φ2.0mm的平底孔）。

圖4-6  AVG曲線制作界面

4.5  API 5UE缺陷深度定量計算

操作步驟：

a) 選擇【開啟功能】；

b) 選擇【Dr】，輸入標定校準的參考指示體（已知深度的刻槽或通孔的深度）；

c) 按，調節合適的探測范圍；

d) 選擇【開啟峰值】；

e) 將探頭放置到標準試塊并確認耦合良好；

f) 移動探頭，使屏幕形成API 5UE所要求的動態回波包絡；

g) 移動閘門1套住回波包絡；

h) 選擇【計算因子K】；

i) 將探頭放置到待檢測工件并確認耦合良好；移動探頭，使屏幕形成API 5UE所要求的動態回波包絡；

j) 選擇【Di】進行計算。

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